電子科學的 TDS 委託分析服務：將設備製造商的專業知識融入貴公司實驗室的高階分析支援

電子科學（ESCO）的 TDS 委託分析，絕非單純的代測服務。
自1990年推出TDS（升溫脫附氣相分析儀）商用機型以來，我們始終致力於**「捕捉材料的真實面貌」**，是此領域的先驅。
敬請善用唯有設備製造商才能提供的「最新測量技術」與「對材料的深刻理解」，以加速貴公司的研發進程。

1.設備採購與TDS委託分析的「雙贏」關係

「購買設備，還是委託分析？」——我們並不認為這兩個選項是相互取捨的。
我們將委託分析與設備導入視為「串聯研發各階段的合作夥伴關係」。

導入前的技術驗證（PoC）：
透過委託分析確認「使用貴公司的樣本能觀察到什麼」。在您充分理解並認可後再導入設備，藉此避免設備投資出現不匹配的情況。

進階分析的備份：
日常分析將使用本公司設備進行，僅在需要更嚴苛條件（如矽的精密溫度測量、超高溫、極低溫等）時，才會將ESCO的尖端設備作為「第二實驗室」加以運用。

分享技術更新：
我們將在受託分析現場所發現的課題，反饋至儀器開發過程中。透過受託分析服務，客戶得以隨時接觸全球最尖端的測量解決方案。

2.4項TDS技術：針對各項挑戰提供最佳解決方案

ESCO 針對委託分析業務，提供四款 TDS 機型，涵蓋範圍從半導體及 FPD 產業的標準工具，到學術研究級別的高階分析皆能應對。
委託分析TDS比較表　※若您使用智慧型手機瀏覽，請將手機橫向放置。

3.各裝置所提供的「獨特價值」

■TDS1200II IR 系列：體驗世界級標準
本系列堪稱電子科學的歷史縮影，已成為半導體與顯示器產業的「共通語言」。透過委託分析所獲得的數據，可直接作為業界標準的評估基準加以運用，並確保未來引進設備時能順利進行技術傳承。

■TDS1200II IR BGM：為矽製程提供「精準的溫度基準」
在真空環境中精確測量矽溫，在物理上曾是極高的難關。搭載最新BGM技術的機型，不再僅是測量設備的控制溫度，而是直接測量「樣品的真實溫度」。這些克服了材料特有物理難題的高精度數據，將使次世代裝置的開發精度獲得飛躍性的提升。

■TDS1700 IH：透過超高溫分析釐清碳結構
碳材料的特性取決於其碳網面的大小。透過最高達 1700℃ 的精密升溫分析，可定量測定結合於碳邊緣（邊緣）的氫。
●平均結構的定量化：預測具有統計上高可靠性的、代表整體材料「平均碳網面尺寸」，並能強力輔助 XRD 等結構分析。
●製程優化：透過高溫下的氫釋放行為，可詳細評估熱處理製程對材料結構的影響。

■TDS-100 Cryo H2：克服氫脆化（延遲破壞）
要釐清氫脆化機制，從 -100℃ 以下的極低溫區域進行精密分析是不可或缺的。
ESCO 善用「質譜分析法（真空型）」的優勢，提供能掌握物理本質的分析服務。
●實現高分離度的「薄片測定」之必要性：要精確分離氫捕獲位點，將試樣加工成薄片是不可或缺的。若試樣過厚，從捕獲位點釋放出的氫氣需耗費較長時間方能抵達表面，可說會先經過暫時積聚於試樣厚度（即**「水壩」**）的過程，隨後才釋放出來。
其結果導致各峰值重疊，無法進行精確分離。
● 低背景輻射下的微量檢測：雖然試樣變薄後氫氣量自然會減少，但憑藉本公司質譜分析法（真空型）獨有的低背景輻射環境，即使微量的氫氣釋放也不會被雜訊淹沒，仍能確切地檢測出來。
●精確計算活化能：憑藉高速的檢測速度，能精準捕捉峰值溫度。藉此，即可精確計算出氫氣釋放的活化能。

4.從分析到導入的階段性模型

我們是一家始終陪伴客戶成長與成功的「伴跑型」製造商。

第一階段：透過委託分析探索可能性
即使只有一個樣本也歡迎。我們將從四種機型中選擇最適切的方法，並由專業人員為您解讀數據的「真意」。

第二階段：加速研發
靈活運用多種儀器，獲取多角度的實證數據。請將我們的研發環境，視為貴公司的衛星實驗室來活用。

第三階段：優化自主運作與持續支援
當分析頻率增加時，即可導入設備。導入後，針對貴公司自有設備無法應對的特殊測量條件（如超高溫等），ESCO的委託服務將持續提供支援，確保貴公司的研究不中斷。
『答案就在釋放出的氣體之中。何不透過ESCO的技術，與我們共同找出這個答案呢？』

委託分析相關諮詢

我們將根據檢測對象及課題內容，為您提供最適切的分析條件建議。
歡迎先透過下方的委託分析諮詢表單與我們聯繫。

委託分析諮詢