電子科学株式会社

+81-422-55-1011
聯絡我們
lang-j lang-j lang-j lang-j lang-e lang-e lang-k lang-k lang-c1 lang-c1 lang-c2 lang-c2

技術資料一覽

裝置啟動與停止
維護作業
設備故障
⇒ESCO-TDS1200Ⅱ IR
⇒ESCO-TDS1200Ⅱ IR
⇒緊急處理程序
⇒ESCO-TDS1700 IH
⇒ESCO-TDS1700 IH
⇒故障排除
⇒TDS1200・WA1000/W
⇒TDS1200・WA1000/W
 
 
⇒全面檢修
 
升溫脫離分析
光激發脫離分析
關於QMS
⇒何謂升溫脫離分析
⇒光激發脫離法原理
⇒搭載QMS
⇒關於分析方法
⇒PMMA實驗數據
⇒碎裂模式係數
⇒關於定量法
⇒PET實驗數據
⇒解析模擬
   
⇒取得資料範例
   
需注意的樣本
論文・學會發表
 
⇒粉末樣品
⇒2020年～
 
⇒會污染裝置的樣本
⇒2015～2019
 
⇒紅外線吸收率低的樣本
⇒2010～2014
 
 
⇒2005〜2009
 
 
⇒2000〜2004
 
 
⇒1992〜1999
 
 
⇒〜1991
 

聯絡我們


若您對產品有任何諮詢或疑問，
請透過以下聯絡表單，隨時與我們聯繫。
聯絡我們