升温脱离分析是什么
通过以恒定速度升高固体表面温度,同时测量脱附化学物质引起的压力变化及脱附化学物质的量变化,从而鉴定固体表面的吸附化学物质,并获取吸附量、吸附状态及表面脱附过程等信息的方法。
因需在控制升温速率下进行测量,故亦称TPD(温度程序控制脱附)。
该方法不仅适用于研究载金催化剂等固体粉末样品的表面吸附状态,更是研究单晶表面吸附状态的重要手段。
脱附化学种的鉴定及脱附量测定常采用四极杆质谱仪。
通过温度变化可获得脱附分子种类的序列,该曲线称为升温脱附谱(thermal desorption spectrum)。
升温速率范围广泛,从102~103K/s的瞬时脱附(flash desorption)到常规的10~10-2K/s均可实现。
通过分析升温脱附谱的形态及改变升温速率时谱图形态的变化,可获得关于吸附状态的诸多信息。
※引自岩波书店株式会社《理化学辞典》第5版第643页第799项“升温脱附法”条目。
另,本内容已于2000年7月获得刊登许可,谨此致谢。

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